SN74ABT8245DWG4

Name: SN74ABT8245DWG4
Brand: SHENZHEN ECER NETWORK TECHNOLOGY CO.,LTD
Availability: InStock

Wszystkie produkty

Układ scalony MCU
(217)

Złącza FFC FPC
(3667)

Wymagania w zakresie bezpieczeństwa
(2459)

Audio Specjalny cel
(1050)

Układy scalone do akwizycji danych
(1000)

Wbudowane ICS
(1000)

Układy scalone interfejsów
(1000)

Liniowy układ scalony
(950)

IC logiczny
(894)

Układ pamięci
(984)

Zarządzanie energią
(939)

RF i bezprzewodowe
(995)

Czujniki temperatury IC
(1000)

Mnożniki częstotliwości
(934)

Zabezpieczenie obwodu IC
(992)

Dyskretny półprzewodnik
(911)

Polimerowe kondensatory
(700)

Czujniki ultradźwiękowe
(1000)

Układy scalone IC
(1000)

Ochrona obwodu
(692)

Optoelektronika
(1000)

Złącza koaksjalne
(400)

Dyskretne produkty półprzewodnikowe
(853)

Filtry ceramiczne Murata
(757)

Induktory, cewki, dusze
(950)

Złącza specyfikacji MIL
(890)

Układy scalone ICS
(27)

Im Online Czat teraz

Szczegóły Produktu: Zapłata:

Opis:	URZĄDZENIE TESTOWE SKANOWANIA IC 24SOIC

Kontakt

Opis

Kategoria:	Układy scalone (IC) Logika Specjalna logika	Liczba bitów:	8
Status produktu:	Wycofane w Digi-Key	Rodzaj montażu:	Powierzchnia
Pakiet:	Rurka	Zestaw:	74ABT
Typ logiki:	Skanuj urządzenie testowe za pomocą nadajników-odbiorników magistrali	Zestaw urządzeń dostawcy:	24-SOIC
Mfr:	Instrumenty Teksasu	Temperatura pracy:	-40°C ~ 85°C
Napięcie zasilania:	4,5 V ~ 5,5 V	Opakowanie / Pudełko:	24-SOIC (0,295", 7,50 mm szerokości)
Numer produktu podstawowego:	74ABT8245